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Betriebseinheit Elektronenmikroskopie der Technischen Universität Hamburg-Harburg

REM Zeiss Supra VP 55
Abb. 1: Raster Elektronen-
Mikroskop Zeiss Supra 55 VP
mit EDX, WDX  und EBSD System der Firma OXFORD INSTRUMENTS.


Herzlich Willkommen auf der Homepage der Betriebseinheit Elektronenmikroskopie (BeEM) der Technischen Universität Hamburg-Harburg (TUHH).
Die BeEM stellt als zentrale wissenschaftliche Betriebseinheit der gesamten TUHH und anderen öffentlichen Einrichtungen Anlagen, Methoden und Expertise im Bereich der Elektronenmikroskopie und Mikroanalytik zur Verfügung.
Unser Service erstreckt sich hierbei von der Probenpräparation bis hin zur computer- unterstützten Auswertung der aufgenommenen Bild- und Analytikinformation.
Weitherhin übernehmen wir auch gerne externe Auftragsarbeiten ( s. Service ).